Modelación de la carga para estudios estáticos de estabilidad de tensión

• Autores: Zaid Garcia Sánchez, José Antonio González-Cueto Cruz, Leonardo Casas Fernández, Juan Gualberto Boza Valerino
• Localización: Ingeniería Energética, ISSN-e 1815-5901, Vol. 34, Nº. 2, 2013, págs. 129-136
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Modelling of the load for stable state studies of voltage stability
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• Resumen
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    En este trabajo se presenta un análisis de la influencia de la naturaleza de la carga en la estabilidad de tensión. El margen de carga es un índice considerado exacto para el análisis de la estabilidad de la tensión, sin embargo tradicionalmente se ha asumido la carga para obtener este índice como carga de potencia constante, esto no refleja fielmente el comportamiento de la misma cuando se deterioran las condiciones de tensión en el sistema eléctrico. Se demuestra la influencia del factor de potencia de la carga en la obtención del punto de máxima carga del sistema, así como la influencia de la misma en la obtención del punto de estabilidad por tensión y el punto de máxima carga. Se implementó un programa para la determinación en tiempo real del margen de carga. La metodología fue probada con sistemas de prueba de la IEEE y con un sistema real.

  • English

    In this paper an analysis of the influence of the nature of the load is presented in the stability tension. The load margin is an exact indices to analyses voltage stability, however traditionally it has been considered the load for obtain these indices as a constant power load, this does not show faithfully the behavior of the load when the condition of tension in the electric system are deteriorate. It is demonstrated the influence of the load power factor in the obtaining of the maximum power load of the system, such as the influence of this one in the obtaining of the stability point and maximum load point. This paper presents software to obtain the load margin for on-line studies. The methodology was tested with IEEE test systems and a real system.