La vigilancia tecnológica y la inteligencia competitiva en los estándares de gestión de la calidad en I+D+i

• Autores: Juan Carlos Aldasoro Alustiza, María Luisa Cantonnet Jordi, Ernesto Cilleruelo Carrasco
• Localización: XVI Congreso de Ingeniería de Organización: Vigo, 18 a 20 de julio de 2012 / coord. por José Carlos Prado Prado, Jesús García Arca, 2012, págs. 1162-1168
• Idioma: español
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