Estructuras combinacionales facilmente chequeables mediante análisis reducido de su relación entrada/ salida

• Autores: José Manuel Solana Quirós, Juan Antonio Michell Martín, Salvador Bracho
• Localización: Revista de informática y automática, ISSN 0210-8712, Año 17, Nº. 59, 1984 (Ejemplar dedicado a: II Jornadas de Diseño Lógico), págs. 41-46
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Combinational structure easily testable through the input/ output relationship by reduced analysis
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• Resumen
  • español

    En este trabajo se presenta un método de diseño de circuitos combinacionales basado en la implementación estructurada especial de funciones Booleanas que resulta idóneo para el chequeo de los mismos mediante un método de análisis efecto- causa. Se muestra una forma de descripción de comportamiento del circuito implementado orientada a facilitar su chequeo utilizando el modelo "stuck-at-fault" (simple ó múltiple) y una simplificación del Algoritmo de Eliminación.

  • English

    This paper present a method for designing combinational circuits based on a particular structure of its Boolean functions which leads to an optimized mode of testing it by an effect- cause analysis. We show a description of the circuit behaviour in order to shorten its test using the stuck-at-fault (multiple or simple) model a simplification of the elimination algorithm.