Presentamos un método para generar test de detección de fallos en circuitos secuenciales asíncronos, empleando un generador de vectores de entrada aleatorios. Esta técnica requiere transformar el circuito asíncrono en celdas iterativas, de este modo el problema de generación de test para detectar fallos simples en circuitos asíncronos se convierte en un problema de fallos múltiples en circuitos combinacionales.
We present a method for test generation to detect faults in asynchronous serquential circuits with random vector input. This technique need transform the asynchronous circuit in its iterative model, and to convert a simple fault random test generation problem from an asynchronous circuit into a multiple fault problem for a combinational circuit.
We have obtained and expression to a practical case.
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