Se presenta una metodología de diagnosis de fallos físicos aplicada a estructuras combinacionales realizadas con tecnología N-MOS. El método de diagnosis está basado en el análisis de la función de salida del circuito, restringido a un subconjunto de la base de Walsh generado con las variables de entrada.
It is presented a physical faults diagnosis method applicable to combinational cell structures implemented in N-MOS technology. The diagnosis is based in the analysis of the circuit output function restricted to a subset of the Walsh base generate with the input variables.
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