Variación de la cobertura de fallos lógicos, con los parámetros de la secuencia de prueba en la detección de fallos utilizando secuencias aleatorias

• Autores: Salvador Bracho, Niceto Pérez Cagigal
• Localización: Revista de informática y automática, ISSN 0210-8712, Año 16, Nº. 56, 1983, págs. 8-16
• Idioma: español
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• Resumen

  • Este artículo estudia la detección de fallos en circuitos lógicos combinacionales mediante el empleo de secuencias aleatorias y la variación de la cobertura de fallos mediante la variación de los parámetros de estas secuencias aleatorias. En especial, hemos estudiado la variación de la cobertura de fallos frente a la calidad de aleatoriedad de las secuencias, medida mediante test de calidad, y frente a la probabilidad de la existencia del uno lógico en las mismas. Hemos puesto a punto una técnica de análisis de cobertura de fallos muy rápida, un detector de test, que nos ha permitido probar la baja influencia de estos parámetros de las secuencias aleatorias en la cobertura de fallos, y por consiguiente la posibilidad de utilizar secuencias pseudo-aleatorias generadas por métodos convencionales en la detección de fallos en circuitos lógicos mediante secuencias aleatorias.