Transient-thermo-reflectance for the study of surface carrier dynamics

• Autores: B. G. Pérez Hernández, J. Garduño Mejía, C.J. Román Moreno, O. G. Morales Saavedra, J.G. Bañuelos Muñetón, R. Ortega Martínez
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 46, Nº. 1, 2013 (Ejemplar dedicado a: Mexican Optics and Photonics Meeting 2012 - MOPM), págs. 13-19
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Reflectancia-termo-transitoria para el estudio de la dinámica de portadores de carga en superficies
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• Resumen
  • español

    En este trabajo presentamos una técnica no destructiva de bombeo-prueba, técnica conocida como reflectancia termo-transitoria (TTR) para el estudio de la dinámica de portadores de carga en superficies metálicas y semiconductoras a un régimen de fluencia baja. La técnica permite medir el cambio en la reflectancia en la superficie de la muestra como función del tiempo en el régimen temporal de femtosegundos. Los cambios en la reflectancia pueden emplearse para determinar las propiedades de la muestra. Los resultados experimentales se comparan con los cálculos de un modelo numérico.

  • English

    In this work we present a non-destructive examination (NDE) pump-probe technique known as transient-thermo-reflectance (TTR) for the study of transient carrier dynamics in semiconductor and metal surfaces at low fluence regime. The technique enables to measure the change in reflectance at the sample surface as a function of time on the femtosecond time regime. Changes in reflectance can then be used to determine properties of the sample. Experimental results are compared with numerical model calculations.