Genscan: Sistema de ayuda a la generación de scan-paths en circuitos integrados

• Autores: Joan Oliver Malagelada, Carles Ferrer, Elena Valderrama Vallès
• Localización: Informática y automática: revista de la Asociación Española de Informática y Automática, ISSN 0214-932X, Vol. 25, Nº. 2, 1992, págs. 33-41
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Resumen
  • español

    En el diseño de circuitos integrados es cada vez más común la aplicación de técnicas de diseño para la testabilidad orientadas a facilitar el test de los mismos.

    En este sentido, en este artículo se presenta el generador automático de caminos internos o "scan-paths" GENSCAN. Trabaja con descripciones jerárquicas y a nivel lógico. Es rápido y de aplicación sencilla, lo cual simplifica el diseño de circuitos integrados con inclusión de scan-path.

    Los incrementos en área obtenidos en las transformaciones están dentro de los márgenes considerados como típicos al aplicar técnicas de diseño para la testabilidad de scan-path.

  • English

    It is very usual today, to include desing for testability techniques during the integrated circuit desing process, in order to help IC testing. In this sense, we present here an automatic scan-path generator called GENSCAN. It works with a hierarchical description at logical level. The algorithm is a fast one and it is easy to be applied. This simplifies the addition of the scan-path methodology in integrated circuits. The area overheads due to the transformation are within the typical range of the desing for test techniques.