Low energy PIXE revisited: is it still alive?

• Autores: J. Miranda
• Localización: Revista Mexicana de Física, ISSN-e 0035-001X, Vol. 56, Nº. Extra 1, 2010 (Ejemplar dedicado a: V International symposium on radiation physics), págs. 82-84
• Idioma: inglés
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• Resumen
  • español

    La emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE) usando protones con bajas energías (menores que 1 MeV) no se ha usado extensamente en el pasado, principalmente a causa de la baja emisión de rayos X, un conocimiento limitado de las secciones de ionización teóricas en este intervalo de energías y el posible daño producido en las muestras por la energía transferida a ellas por el haz de iones. Sin embargo, hay varios laboratorios alrededor del mundo que aún utilizan esta variante de PIXE, gracias a las ventajas que presenta, tales como una menor radiación de fondo en el intervalo de energías de rayos X correspondiente a elementos ligeros y correcciones más pequeñas por la fluorescencia secundaria. Todo esto resulta en mejores límites de detección para elementos ligeros (entre Mg y Cl), comparados con los que hay en PIXE tradicional (usando protones con energías entre 2 MeV y 3 MeV). En los diez años recientes se han hecho mayores esfuerzos para conocer bien las secciones de ionización, al igual que nuevas aplicaciones. En este trabajo se presenta un breve resumen de los avances, junto con sugerencias acerca de cómo se podrían mejorar los resultados usando técnicas complementarias, como la fluorescencia de rayos X (XRF) y la retrodispersión de Rutherford (RBS).

  • English

    Particle Induced X-ray Emission (PIXE) using low energy protons (below 1 MeV) has not been extensively used in the past, mainly because of the low emission of X-rays, a limited knowledge of theoretical ionization cross sections in this energy range, and the possible damage to the samples due to the energy transferred by the ion beam. Nevertheless, there are several small laboratories around the world that still use this variation of PIXE, bacause of the advantages it presents, such as a lower background radiation in the X-ray range corresponding to light elements and the smaller corrections due to secondary fluorescence. This results in improved detection limits for light elements (from Mg to Cl), as compared to the traditional PIXE (with 2 MeV to 3 MeV protons). In the past decade, futher efforts in the measurement and understanding of the X-ray production cross sections, as well as new applications, have been developed. In the present work, a brief summary of these advances is presented, together with suggestions about how its performance might be enhanced with the use of complementary techniques, like X-ray fluorescence (XRF) and Rutherford Backscattering (RBS) spectrometry.