Computational of crack tip elastic stredd intensity factor in mode I by in-plane electronic speckle patterns interferometry.

• Autores: J Parra Michel, A. Martínez, J.A. Rayas
• Localización: Revista Mexicana de Física, ISSN-e 0035-001X, Vol. 56, Nº. 5, 2010, págs. 394-400
• Idioma: inglés
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• Resumen
  • español

    En este trabajo un sistema de iluminación dual es utilizado para la obtención del factor de concentración de esfuerzos en el primer modo (modo I) en un elemento mecánico durante la prueba de tensión, los campos de desplazamiento son obtenidos por Interferometría Electrónica del Moteado y la técnica de corrimiento de fase. Las deformaciones son calculadas mediante el método de diferenciación de Stokes. Los resultados obtenidos son comparados mediante una simulación usando el análisis de elemento finito.

  • English

    In this work, a dual ilumination beam system is used to obtain the stress intensity factor in modes one (mode I) to mechanical elements during tension testing. The displacement field is obtained by means of electronic speckle pattern interferometry and phase stepping technique. Deformations are calculated by the Stokes differentiation method. Results are compared with a numerical simulation using a finite element analysis technique.