X-ray diffraction investigation of white layer development in hard-turned surfaces.

• Autores: J. Kundrák, Z. Gácsi, K. Gyáni, V. Bana, G. Tomolya
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 62, Nº. 5-8, 2012, págs. 457-470
• Idioma: inglés
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