Automated optical inspection for holograms with mixed patterns.

• Autores: H.-J. Kwon, T.-H. Park
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 54, Nº. 1-4, 2011, págs. 215-222
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)