MTR-Fill: A Simulated Annealing-Based X-Filling Technique to Reduce Test Power Dissipation for Scan-Based Designs

• Autores: Dong Sup Song
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 4, 2008, págs. 1197-1200
• Idioma: inglés
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