Back- and Front-Interface Trap Densities Evaluation and Stress Effect of Poly-Si TFT

• Autores: K. Yakatori, H. Asada, S. Kaneko
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 10, 2008, págs. 1564-1569
• Idioma: inglés
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