Analytical Model of Static Noise Margin in CMOS SRAM for Variation Consideration

• Autores: H. Shinohara, K. Nii, H. Onodera
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 9, 2008, págs. 1488-1500
• Idioma: inglés
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