Novel DFT Strategies Using Full/Partial Scan Designs and Test Point Insertion to Reduce Test Application Time

• Autores: Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura, Mitsuyasu Ohta
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 84, Nº 11, 2001, págs. 2722-2730
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)