A Leakage Reduction Scheme for Sleep Transistors with Decoupling Capacitors in the Deep Submicron Era

• Autores: K. Kobayashi, A. Higuchi, H. Onodera
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 6, 2006, pág. 838
• Idioma: inglés
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