Investigation of Cell-Gap Defects Using Gap Simulation (INVITED)

• Autores: H. Nakatani, T. Unate, A. Nakasuga, S. Ichikawa, K. Suekuni, M. Ishimaru
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 10, 2006, págs. 1390-1394
• Idioma: inglés
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