Effect of a Guard-Ring on the Leakage Current in a Si-PIN X-Ray Detector for a Single Photon Counting Sensor

• Autores: J. Kim
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 5, 2008, págs. 703-707
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)