Electrical Characterization of Nano-Floating Gated Silicon-on-Insulator Memory with In2 O3 Nano-Particles Embedded in Polyimide Insulator

• Autores: D. Lee
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 5, 2008, págs. 747-750
• Idioma: inglés
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