Characterization of High Q Transmission Line Structure for Advanced CMOS Processes

• Autores: I. Lai, H. Tanimoto, M. Fujishima
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 12, 2006, págs. 1872-1879
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)