Further Study on Coaxial-Probe-Based Two-Thickness-Method for Nondestructive and Broadband Measurement of Complex EM-parameters of Absorbing Material

• Autores: C. Chen
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 9, 2007, págs. 1763-1769
• Idioma: inglés
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