Scalable Short-Open-Interconnect S-Parameter De-Embedding Method for On-Wafer Microwave Characterization of Silicon MOSFETs

• Autores: M. Cho, Y. Wang, L. Wu
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 9, 2007, págs. 1708-1714
• Idioma: inglés
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