Experimental Verification of Power Supply Noise Modeling for EMI Analysis through On-Board and On-Chip Noise Measurements

• Autores: K. Ichikawa, Y. Takahashi, M. Nagata
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 6, 2007, págs. 1282-1290
• Idioma: inglés
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