Application of a Digital Scanning Laser Microscope to 3-D Analysis of Contact Surface Damages

• Autores: M. Hasegawa, J. Makimoto, K. Sawa
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 6, 2003, págs. 932-938
• Idioma: inglés
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