SImulations of High-Frequency Thermal Noise in Silicon-on-Insulator MOSFETs Using Distributed-Transmission-Line Model

• Autores: D. Sumino, Y. Omura
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 7, 2002, págs. 1443-1450
• Idioma: inglés
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