A Resonant Slit-Type Probe for Millimeter-Wave Scanning Near-Field Microscopy

• Autores: K. Mizuno, T. Nozokido, T. Ohbayashi, J. Bae
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 12, 2004, pág. 2158
• Idioma: inglés
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