A New Characterization Method for Accurate Capacitor Matching Measurements Using Pseudo-Floating Gate Test Structures in Submicron CMOS and BICMOS Technologies

• Autores: O. Roux
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 4, 1999, págs. 624-629
• Idioma: inglés
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