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A New Characterization Method for Accurate Capacitor Matching Measurements Using Pseudo-Floating Gate Test Structures in Submicron CMOS and BICMOS Technologies
Autores:
O. Roux
Localización:
IEICE transactions on electronics
,
ISSN
0916-8524,
Vol. 82, Nº 4, 1999
,
págs.
624-629
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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