A Non-Reflection-Influence Method for On-Line Measurement of Permittivity Using Microwave Free-Space Technique

• Autores: Zhewang Ma, S. Okamura
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 12, 1998, págs. 1936-1941
• Idioma: inglés
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