Analysis of Plane Wave Scattering by a Conducting Thin Plate and a Criterion for Ray Tracing Method

• Autores: M. Hata, K. Uchida, T. Imai, T. Fujii
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 4, 1998, pág. 618
• Idioma: inglés
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