Application of Digital Image Measuring System (DIMS) and Shadow Image Processing Technique (SIPT) to Damage Analysis of Electrical Sliding Contact Surface

• Autores: M. Taniguchi, M. Kanazawa, T. Takagi
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 3, 1998, pág. 377
• Idioma: inglés
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