Effect of Zr/Ti Ratio on the Reliability Characteristics Behavior of Sol-Gel Derived PZT Films on Pt/IrO~2 Electrode

• Autores: H. Ashida, S. Otani, K. Matsuura, K. Takai, T. Tamura
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 4, 1998, pág. 528
• Idioma: inglés
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