Electron Transport in Metal-Amorphous Silicon-Metal Memory Devices

• Autores: M. J. Rose, J. Hu, J. Hajto, A. J. Snell
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 9, 2001, págs. 1197-1201
• Idioma: inglés
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