FVTD Simulation for Random Rough Dielectric Surface Scattering at Low Grazing Angle

• Autores: K. Y. Yoon, M. Tateiba, K. Uchida
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 12, 2000, págs. 1836-1843
• Idioma: inglés
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