Atomic Scale Simulation of Extended Defects: Monte Carlo Approach

• Autores: J. Lee, T. Won
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 8, 2000, págs. 1253-1258
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)