Microstructure Analysis of Annealing Effect on CoCrPt Thin Film Media by XRD

• Autores: H. Gong, D. Jin, Y. Su, J. P. Wang
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 9, 2000, págs. 1473-1477
• Idioma: inglés
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