Visibility Evaluation of the Inverse-Phase CRT Raster Moire Pattern

• Autores: N. Shiramatsu, S. Iwata, T. Minemoto
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 10, 2000, págs. 1594-1601
• Idioma: inglés
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