Local Area Characterization of TTF-TCNQ Evaporated Films by Scanning Probe Microscope

• Autores: K. I. Tanaka, K. Kudo, M. Iizuka, S. Kuniyoshi
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 7, 2000, págs. 1069-1070
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)