Experimental Characterization and Modeling of Transmission Line Effects for High-Speed VLSI Circuit Interconnects

• Autores: J. Kim, W. Jin, S. Yoon, Y. Eo
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 5, 2000, págs. 728-735
• Idioma: inglés
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