Diagnosing Delay Faults in Combinational Circuits under the Ambiguous Delay Model

• Autores: K. O. Boateng, Haruhisa Takahashi, Y. Takamatsu
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 12, 1999, págs. 1563-1571
• Idioma: inglés
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