A New Generation Method of Slowly Rotating-EM Fields for Radiated Immunity/Susceptibility Test

• Autores: Y. Kami, K. Murano, M. Tayarani, F. Xiao
• Localización: IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 88, Nº 8, 2005, pág. 3133
• Idioma: inglés
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