De-Embedding Technique for the Extraction of Parasistic and Stray Capacitances from 1-Port Measurements

• Autores: U. Paoletti, O. Wada
• Localización: IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 90, Nº 6, 2007, págs. 1298-1304
• Idioma: inglés
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