Analysis by I-V Curves for Intrinsic Josephson Junctions of TI2Ba2CaCu2Ox Thin Films on MgO Substrates

• Autores: S. Yoshikawa
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 80, Nº 10, 1997, págs. 1291-1296
• Idioma: inglés
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