Model for Thermal Noise in Semiconductor Bipolar Transistors at Low-Current Operation as Multidimensional Diffusion Stochastic Process

• Autores: Y. Mamontov, M. Willander
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 80, Nº 7, 1997, págs. 1025-1042
• Idioma: inglés
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