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How to fit models of recognition memory data using maximum likelihood
Autores:
John C. Dunn
Localización:
International Journal of Psychological Research
,
ISSN
2011-2084,
ISSN-e
2011-2084,
Vol. 3, Nº. 1, 2010
,
págs.
140-149
Idioma:
inglés
Títulos paralelos:
Cómo ajustar modelos de datos en experimentos sobre la memoria de reconcomiendo usando métodos de máxima verosimilitud
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