A model for electroelastic plates under biasing fields with applications in buckling analysis

• Autores: Q. Jiang, Y.T. Hu, J.S. Yang
• Localización: International journal of solids and structures, ISSN 0020-7683, Vol. 39, Nº 9, 2002, págs. 2629-2642
• Idioma: inglés
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