Slice overlap-detection algorithm for process planning in multiple-material stereolithography.

• Autores: H.-C. Kim, J.-W. Choi, E. MacDonald, R. Wicker
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 46, Nº. 9-12, 2010, págs. 1161-1170
• Idioma: inglés
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