Constrained scheduling of the inspection activities on semiconductor wafers grouped in families with sequence-dependent set-up times.

• Autores: G. Celano, A. Costa, S. Fichera
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 46, Nº. 5-8, 2010, págs. 695-707
• Idioma: inglés
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