Uni-axial mechanical stress effect on Trench Punch through IGBT under short-circuit operation.

• Autores: Y. Belmehdi, S. Azzopardi, A. Benmansour, J.-Y. Delétage, E. Woirgard
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1398-1403
• Idioma: inglés
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