Reliability considerations in pulsed power resonant conversion.

• Autores: F. Carastro, A. Castellazzi, J.C. Clare, M. Johnson, M. Bland, P.W. Wheeler
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1352-1357
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)